2024-12-13 03:03:21
石墨化度分析引言石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,應用于冶金、化工、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點陣參數(shù),石墨化度就愈高。D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:掠入射衍射、X射線反射率測量。上海結(jié)晶度檢測分析
EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D、快照和掃描模式),覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,而是所有分析應用領域的專業(yè)用戶。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,都為多模式探測器樹立了新標準。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術,整合了布魯克的軟件和硬件,可為您帶來無縫易用的解決方案。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。上海XRD衍射儀零售價格從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度、成分外延排列和應變松弛技術。
殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構(gòu)件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現(xiàn)。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度。非環(huán)境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析。
不論您的預算如何,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能。由于降低了對水和電力等資源的需求,其運營成本降低。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,同時布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證:測角儀采用免維護的堅固設計,可為您帶來機械強度和較長的使用壽命,因此能夠為您提供好的數(shù)據(jù)質(zhì)量。其中,布魯克提供10年保修。儀器準直保證探測器質(zhì)量保證D8 DISCOVER配備了MONTEL光學器件的I?S微焦源可提供更大強度小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。
D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。得益于出色的分辨率、低角度和低背景,該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),保證實現(xiàn)儀器對準(精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ)。加上遵循著嚴格的儀器驗證協(xié)議,它可為所有應用提供準確數(shù)據(jù)。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,與布魯克大量組件、光學器件和探測器完全兼容。上海XRD衍射儀推薦咨詢
D8D為藥品的整個生命周期提供支持,包括結(jié)構(gòu)測定、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。上海結(jié)晶度檢測分析
BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,將樣品制備問題可視化,如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結(jié)果。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術,無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業(yè)密切合作,不斷改進其分析解決方案。在D2PHASER方面,我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包,其中包括針對10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的、供工廠應用的測量和數(shù)據(jù)評估方法,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運營。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠,請參見D8ENDEAVOR。上海結(jié)晶度檢測分析